研究楊氏雙縫干涉實(shí)驗原理
來(lái)源：高中物理輔導網(wǎng) 2009-09-09 22:10:37
[標簽：測量]
由楊氏雙縫干涉的基本原理可得出關(guān)系式
其中Δx是像屏上條紋的寬度──相鄰兩條亮紋間的距離，單位用m；L是從第二級光源（楊氏狹縫）到顯微鏡焦平面的距離，單位用m；λ是所用光線(xiàn)的波長(cháng)，單位用m；d是第二級光源（狹縫）的縫距（間隔），單位用m。
通過(guò)三個(gè)實(shí)驗來(lái)驗證Δx對L、λ、d三個(gè)量的依賴(lài)關(guān)系。在每個(gè)實(shí)驗中，上式右邊的三個(gè)量中固定兩個(gè)，改變另一個(gè)。
也有可能把三個(gè)實(shí)驗合并為一個(gè)，并收集足夠的數據以確保分析得出上面的關(guān)系式。整個(gè)實(shí)驗要幾個(gè)小時(shí)，因為，對于五個(gè)d的值中的每一個(gè)，都要用五個(gè)不同的L值和三種不同顏色的光進(jìn)行實(shí)驗，這意味著(zhù)總共要測量75次條紋的寬度；為此，實(shí)驗者需要記錄顯微鏡的讀數在400－500次之間。當時(shí)間不夠時(shí)，建議只研究d和Δx之間的關(guān)系。
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