光學(xué)測微計測微小距離實(shí)驗原理
來(lái)源：高中物理輔導網(wǎng) 2009-09-09 21:41:26
[標簽：光學(xué)]
平面鏡有這樣一個(gè)性質(zhì)：當入射光線(xiàn)的方向不變，鏡面轉過(guò)θ角時(shí)，反射光線(xiàn)將轉過(guò)2θ角，如圖2．2－2。
光學(xué)測微計就利用了平面鏡的這一性質(zhì)。如果鏡面的一端O固定，從鏡面另一端和固定的豎直木板之間插進(jìn)一個(gè)物體，使鏡面由OM1位置轉到OM2位置，則光源S發(fā)出的光線(xiàn)（垂直于OM1）的反射光線(xiàn)將反射到光屏上的A點(diǎn)，如圖2．2－3所示。
可以認為鏡面端點(diǎn)移動(dòng)的距離（即所插物體的厚度）被鏡面“放大”了。通過(guò)數學(xué)公式的計算或用已知厚度的物體進(jìn)行標度的辦法，可以求得未知物體的厚度。在光學(xué)測微計中，光源S是一根豎直的長(cháng)針。用一條系在釘子上的細線(xiàn)，使它與針在鏡內的像S′在一條直線(xiàn)上來(lái)確定反射線(xiàn)的位置，如圖2．2－4所示。
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